GAKUSEE

製造された半導体製品を、高温・高電圧といった厳しい環境下で一定時間動作させ、意図的に初期不良を引き起こすための試験です。この試験によって、出荷直後に故障する可能性のある不良品を事前に見つけ出し、市場に出回ることを防ぎ、製品の信頼性を高めます。